本书共11章，针对当前硬件全生命周期内(包含设计、制造、测试与分发和使用过程)存在的一系列安全问题，介绍了硬件安全原语、硬件木马、芯片盗版、过量生产、逆向工程、侧信道攻击、故障攻击等攻击方法，以及抵抗这些攻击的防御技术。

本书以集成电路产业为核心研究对象,从专利分析的视角切入,重点对产业链上游的材料与设备、中游的设计与制造、下游的封装与测试等关键环节展开深入剖析。研究的维度由表及里,通过整合市场数据、金融投资等多源信息,系统梳理了产业发展现状、技术研发趋势及市场竞争格局;以专利导航分析为方法论基础,绘制了技术演进路线,揭示了专利布局特征

本书以2025年正式发布的全新AltiumDesigner25(版本为AltiumDesigner25.6.2)为基础进行介绍，全面兼容AltiumDesigner高版本(AltiumDesigner16以上的各个版本)。全书共7章，包括电子设计绘制前期准备、原理图库的认识及创建、GD32开发板原理图的绘制、PCB封装

本书采用国产软件-嘉立创EDA专业版为设计软件，选择电源指示灯、随身小夜灯、智能语音灯、简易金属探测仪、DC-DC降压电源和USB2.0拓展坞等6个项目，采用从易到难，从简单到复杂的渐进式项目化结构，介绍原理图绘制、元件符号与封装制作以及PCB设计与制作的完整流程。读者在学习完本书后，能够掌握PCB设计与制作的操作技能

本书系统整合了PCB设计、基材选型、关键制程工艺、智能装联技术与可靠性评估等全产业链内容，涵盖高速高频板材开发、先进封装载板、高密度互连、散热设计及绿色环保等前沿主题。本书突出实用性，案例丰富，案例均是作者多年工作经验的总结，本书结合典型失效案例与解决方案，打通上下游技术环节，助力读者深入理解终端产品对PCB的核心要求

本书是国家科技02重大专项相关课题研究成果。在集成电路制造装备中，静电卡盘作为固定晶圆与控温的核心部件，其静电力的精确测量是确保工艺稳定性和提高芯片良率的关键。本书围绕静电卡盘静电力测量问题，系统构建了涵盖宏观工程应用和微观机理探究的理论与方法体系，从测量原理创新、实验平台研制、仿真方法验证、统一理论框架建立、参数敏感

本书从芯粒系统的测试流程出发，系统地介绍了故障建模、测试方法、测试EDA和测试硬件。首先，书中介绍了芯粒测试的基本概念，涵盖芯粒技术的发展、芯粒测试挑战，以及芯粒测试的技术发展趋势。接着，深入探讨了芯粒互连的故障建模技术，详细分析了各种可能的故障类型及其对电气性能的影响，为后续的测试和诊断提供了坚实的理论基础。随后，详

本书系统地阐述了作为后摩尔时代关键突破技术的硅通孔（TSV）技术及其解决方案。面对传统平面微缩逼近物理极限与经济性崩塌的严峻挑战，TSV技术凭借其超高的互连密度、极低的信号延迟和卓越的功耗效率，成为重构芯片架构、实现性能跃升与成本优化的核心支柱。本书深入解析了TSV的三维集成需求、制造工艺链、关键设计挑战、可靠性分析与

本书从通用性和实用性出发，介绍微电子和集成电路的基本概念、理论和发展。全书共6章，主要包括：微电子和集成电路基础知识和发展现状(概论)、半导体物理基础、半导体器件物理基础、半导体集成电路制造工艺、集成电路基础、新型微电子技术等。

本书介绍了光电集成的核心技术和最新进展，在概论中介绍了光电融合的基本概况和丰富内涵，总结了“光电子与微电子器件及集成”和“信息光子技术”两个国家重点专项的重要研究成果。