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纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化:从电路级到系统级
定 价:69 元
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作者:靳松、韩银和
出版时间:2019/6/1
ISBN:9787302522997
出 版 社:清华大学出版社
中图法分类:
TN431.2
页码:188
纸张:
版次:1
开本:
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内容简介
本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响,并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。
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