先进半导体材料及器件的辐射效应

定　　价：55 元

• 作者：(比)C.Claeys，(比)E.Simoen著
• 出版时间：2008/6/1
• ISBN：9787118054088
• 出 版 社：国防工业出版社

• 中图法分类：TN304 
• 页码：13,428页图
• 纸张：胶版纸
• 版次：1
• 开本：大32开

内容简介

本书在介绍辐射环境、空间应用器件的选择策略以及半导体材料和器件的基本辐射效应机理的基础上，介绍IV族半导体材料、CaAs材料、硅双极器件以及MOS器件的辐射损伤等，并对先进半导体材料及器件的应用前景进行展望。