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集成电路测试技术

集成电路测试技术

定　　价：69 元

        

  • 作者：林洁主编
  • 出版时间：2025/7/1
  • ISBN：9787111783022
  • 出 版 社：机械工业出版社
  • 中图法分类：TN407@v5 
  • 页码：260页
  • 纸张：
  • 版次：1
  • 开本：26cm
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本书基于职业岗位能力要求，立足新时代“中国芯”发展的战略需求，精心设计了6个项目，由浅入深、系统全面地介绍集成电路测试相关知识与技能。从集成电路搭建测试环境，到数字芯片和模拟芯片的典型参数测试，再到功能测试和综合电路测试，全方位训练学生的集成电路测试综合技能。在每个项目都引导学生传承工匠精神，将个人理想与民族复兴结合起来，立志肩负时代重任。
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