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III族氮化物薄膜生长与测试

III族氮化物薄膜生长与测试

定  价:98 元

        

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  • 作者:王文樑
  • 出版时间:2025/8/1
  • ISBN:9787030826480
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:TB43 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:16开
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《Ⅲ族氮化物薄膜生长与测试》聚焦国家半导体战略,系统论述了宽禁带半导体核心材料Ⅲ族氮化物的基础理论、制备技术与性能评估方法。**篇从晶体结构、物理化学特性出发,解析材料在光电子与高功率器件中的应用机理;第二篇介绍了化学/物理气相沉积技术原理与工艺优化策略;第三篇阐述了光学、电学等性能多维度表征方法。同时,《Ⅲ族氮化物薄膜生长与测试》结合了研究团队创新成果,为学科发展和产业升级注入新动能。

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