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高电子迁移率晶体管建模理论与实践

高电子迁移率晶体管建模理论与实践

定  价:128 元

        

  • 作者:高建军著
  • 出版时间:2025/12/1
  • ISBN:9787121517495
  • 出 版 社:电子工业出版社
  • 中图法分类:TN32 
  • 页码:18,274页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:24cm
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本书是作者在微波和光通信技术领域多年工作、学习、研究和教学过程中获得的知识和经验的总结,内容包括微波网络信号矩阵技术和微波网络噪声矩阵技术,以及以此为基础的微波射频高电子迁移率晶体管建模和测试技术。
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